表面科学
Surface science



  RGA – HIDEN四级杆质谱仪为XHV/UHV真空环境需要提供了高灵敏度的检测能力。 配置的离子计算检测器可以使其能够检测正、负离子,可以联续跨越 7个数量级。一体的堆积模式用于对discreet particle的捕获。
  Hiden的3F/PIC质谱仪带有脉冲离子计算检测,可以用于UHV-TPD,提供快速、宽动态范围的多组分检测,捕获全部的脱附组分。温度变化数据与质谱数据被同时自动记录。
  IDP 离子沉积探针是一个为研究由电子、光子激发的脱附中的低能量离子而设计的。
  SIMS,用于材料表面的深度分析、表面组分检测和成像。而SIMS工作站则提供了一套完整的分析设备。

产品
   RGA四极质谱仪
   3F 三级过滤四极质谱仪
   PIC/3F 质谱仪
   EPIC /3F四极偏压质谱仪
   IDP/3F 离子、中子分析仪
   SIMS 工作站
   EQS SIMS 探针

   IG 系列离子枪
 

北京英格海德分析技术有限公司© 版权所有 银玄羽设计制作