二次离子质谱
SIMS



   SIMS是一种高灵敏度的表面分析技术,用于材料表面组分、污染物分析和材料最上层的深度分析。
  HIDEN的SIMS分析材料表面最初的几微米,还提供深度分析,分辨率为5纳米。
  HIDEN的SIMS工作站提供高性能的动态和静态SIMS应用,用于细致的表面组分分析和深度分析。
  HIDEN的SIMS成像设备可提供高分辨率的表面化学地图。
  我们的SIMS及SIMS工作站可以与用户已有的设备连接,或根据客户要求进行改造,或选取其中的部分组件。

产品
   EQS SIMS探针
   SIMS 工作站
   IG 系列离子枪
   PIC/3F 系列质谱仪
   四极质谱仪组件

 

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