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二次离子质谱工作站


    Hiden SIMS 工作站(SIMS Workstation-a complete SIMS Analysis Facility) ,综合UHV / SIMS 设备,进行高级的表面分析。可靠的、普遍适用的SIMS分析工作站。

应用:

    · 各类型样品的快速转向
    · 静态、动态SIMS
    · 整合的离子源,便于RGA和SNMS
    · 表面改性/ 光栅研究
    · SIMS 表面绘图/ 成像
    · 表面污染物分析


特点:

    · Hiden EQS SIMS 分析仪,运行于 MASsoft O/S 之下,检测至 ppb
    · 阴、阳离子、中性粒子、自由基的质量、能量分析仪
    · 基本的激发源选择:带差式泵的Hiden IG20 Ion, IFG200 FAB 或
         高性能液态镓枪
    · 整合的离子枪光栅控制和信号选通,进行深度分析
    · 绝缘体研究中的电子流枪用于电荷中和
    · 液氮冷井和真空室烘烤加热器
    · 快速样品传递,样品固定,负载锁定的操纵器
    · 4 轴:X, Y, Z, θ UHV 操纵器,以最佳定位样品
    · 加上ESM LabVIEW和SIMS 成像程序,进行SIMS元素成像
    · 静态SIMS谱图库可用
    · 自动的SIMS 离子光学透镜调谐和质量数列表,使SIMS性能最佳










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